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仪器名称冷场发射扫描电子显微镜/能谱仪
资产编号12024052
仪器型号SU8020 /QUANT AX200(能谱仪)
生产厂家HITACHI /Bruker(能谱仪)
购置时间2013年
主要功能

1.高真空模式下材料的微区形貌观察
2.高真空模式下材料微区元素成分分析,包括选区分析、线分析和面分析三种测试模式

技术指标

1.电子枪类型:冷场场发射电子枪

2.分辨率:                                                       .

2.1二次电子:1.0nm@15KV   1.3nm@1KV

2.2背散射电子:2.5nm@15KV

3.加速电压:100V-30KV

4.放大倍率:20-2000000倍

5.真空度:10-7Pa (电子枪);10-4Pa (样品室)

6.具有顶部、高位和低位三个二次电子探测器

7. 能谱仪:

7.1 配备单探测器,探测器晶体有效探测面积:≥30mm2 

7.2能量分辨率:MnKα能量分辨率:优于129eV

7.3元素探测范围: Be(4)-U(92)


放置地点唐楼A109
仪器负责人焦世惠