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仪器名称场发射透射电子显微镜
资产编号S2416652
仪器型号JEM-F200
生产厂家JEOL
购置时间2024年
主要功能

1.材料微观形貌和结构研究：包括TEM明场/暗场像、电子衍射、高分辨像、STEM像（BF、DF、HAADF）。
2.材料微观成分研究：元素的定性和半定量分析，包括点、线和面分析。

技术指标

1.电子枪类型：冷场场发射电子枪                                              

2.电子枪束流≥2.5nA@0.7nm(束斑）@200kv                            

3.TEM分辨率:                                                                                      

3.1点分辨率：≤0.23nm@200KV

3.2线分辨率：≤0.10nm@200KV     0.14nm@80KV

3.3背散射电子分辨率：≤1.0nm@200KV

3.4信息分辨率：≤0.11nm@200KV                                                  

4.STEM分辨率                                                                                  

4.1STEM BF/DF分辨率：≤0.16nm@200KV  ≤0.31nm@80KV      

4.2明场分辨率：≤0.16nm@200KV

4.3 暗场分辨率：≤0.16nm@200KV

4.4HAADF分辨率：≤0.16nm@200KV                                          

5.放大倍率：                                                                                    

5.1TEM模式：20-2,000,000倍                                                            

5.2STEM模式： 200~150,000,000倍                                                

6.能谱仪                                                                                          

6.1配备双探测器，每个探测器晶体有效探测面积：≥100mm2

6.2能量分辨率：133eV

6.3元素探测范围： Be(4) -U(92)      


放置地点唐楼B121
仪器负责人焦世惠